1993年，Fischer和(he)Pschunder發現在摻硼(peng)P型CZ－Si的電池在光(guang)照(zhao)條(tiao)件(jian)下，會(hui)發生(sheng)效率衰退，其(qi)衰減(jian)為總效率的2-3%左(zuo)右，并將(jiang)定(ding)義為光(guang)致衰減(jian)現象（LID）。LID衰減(jian)速度很快，在幾天內(nei)(nei)就(jiu)可(ke)以達到(dao)飽和(he)，其(qi)產生(sheng)機制主要是硅材料內(nei)(nei)的硼(peng)氧(B-O)缺陷對。
2012 年，有(you)國外研究發現(xian)(xian)，PERC多(duo)晶硅(gui)太陽電(dian)池中除(chu)存在光致衰減(LID) 之(zhi)外，還存在“熱輔助光誘導衰減”（Light elevatedTemperature Induce Degradation，LeTID）， LeTID 現(xian)(xian)象(xiang)會隨著(zhu)環(huan)境溫(wen)度的(de)升高(gao)而(er)加強，與(yu)傳(chuan)統LID 現(xian)(xian)象(xiang)的(de)特性有(you)所(suo)不同。
2017年，國(guo)際上(shang)一(yi)些研究(jiu)單(dan)位開展了(le)進一(yi)步的(de)(de)(de)研究(jiu)，一(yi)個比較重要的(de)(de)(de)發現是PERC 單(dan)晶(jing)硅太(tai)(tai)陽電(dian)(dian)(dian)池同樣也存在(zai) LeTID 現象。Q-Cell 公(gong)司在(zai)2017 年報道了(le)其 PERC 單(dan)晶(jing)硅太(tai)(tai)陽電(dian)(dian)(dian)池的(de)(de)(de)LeTID 結果，雖然該電(dian)(dian)(dian)池使(shi)用(yong)常規(gui)的(de)(de)(de) B-O 對穩(wen)定工藝可在(zai) 25 ℃時(shi)使(shi)電(dian)(dian)(dian)池的(de)(de)(de)衰減趨于穩(wen)定，但是在(zai) 75 ℃時(shi)其光(guang)致衰減仍會(hui)明顯增加(jia)。
LID與LeTID兩者區別：
中(zhong)國(guo)可(ke)再生能源(yuan)學會光伏專(zhuan)業(ye)委員會在《2018 年中(zhong)國(guo)光伏技術發展報告》（5）對(dui)LID和LeTID的(de)區別進行了總(zong)結。具體如下：
LeTID功率衰減：
2019年9月，Fraunhofer 實(shi)驗室(shi)MatthiasPander團隊公開發表了《Prediction of potential power/field lossfrom LeTID susceptible modules》，論(lun)文對LeTID組件的(de)(de)功(gong)率衰減進行了詳細的(de)(de)研究，如下圖為經過690h測試后(hou)的(de)(de)單晶PERC組件EL照片，組件內部的(de)(de)電(dian)池亮度均(jun)勻性變差，部分電(dian)池已經呈(cheng)現性能衰減。
在(zai)實驗室環境(jing)下，高溫度(du)和強輻射會大大加速功率衰減，因此(ci)衰減速度(du)與地理(li)位(wei)置密切相關。高溫通常定(ding)義在(zai)50℃以(yi)上，文中對LeTID敏(min)感(gan)組(zu)件的(de)測試地理(li)環境(jing)分成3等級，中性moderate (一(yi)年(nian)環境(jing)溫度(du)約1 % 的(de)時段(duan)(duan)在(zai) 50 °C以(yi)上)、溫暖warm (一(yi)年(nian)環境(jing)溫度(du)約5% 的(de)時段(duan)(duan)在(zai)50 °C以(yi)上)和炎熱 hot (一(yi)年(nian)環境(jing)溫度(du)約15% 的(de)時段(duan)(duan)在(zai) 50 °C以(yi)上)。
結果(guo)如(ru)圖所(suo)示(shi)，在(zai)炎熱(re)地(di)帶，年(nian)發電損(sun)失約(yue)達(da)(da)到5%，當達(da)(da)到最大衰減以(yi)后(hou)，第(di)7年(nian)以(yi)后(hou)組件在(zai)熱(re)輔助(zhu)的作用下開始功率(lv)恢(hui)復，但是恢(hui)復的程度有限，需(xu)要花費的時(shi)間也很長，如(ru)圖則需(xu)要10年(nian)以(yi)上。在(zai)溫暖地(di)區，第(di)5年(nian)功率(lv)衰減達(da)(da)到4%左右。在(zai)中(zhong)性(xing)氣候(hou)地(di)區，影(ying)響較小。
另外Friederike Kersten在論文《System performance loss due to LeTID》公開報道(dao)戶外測試結(jie)果，安裝場地位于賽普洛斯(si)，氣候較為溫暖(nuan)，使用多晶PERC電池組(zu)件，運(yun)行三年以后的最大衰(shuai)減為7%左右。
由于(yu)(yu)LeTID組件容易受環(huan)境(jing)溫度影(ying)響，因此對(dui)于(yu)(yu)光(guang)伏電站(zhan)建設(she)，需要(yao)根據(ju)當地的(de)氣候(hou)環(huan)境(jing)進(jin)行選型，對(dui)于(yu)(yu)炎熱地區，最好(hao)使用(yong)具(ju)有第(di)三(san)方(fang)認證的(de)抗LeTID組件。
來源:坎德拉(la)學(xue)院
