1993年(nian)，Fischer和(he)Pschunder發(fa)現在(zai)摻硼(peng)P型(xing)CZ－Si的電(dian)池(chi)在(zai)光(guang)照條件下(xia)，會發(fa)生效率(lv)衰退，其衰減(jian)為(wei)總效率(lv)的2-3%左右，并將(jiang)定義為(wei)光(guang)致(zhi)衰減(jian)現象（LID）。LID衰減(jian)速度很(hen)快，在(zai)幾天內就可以達(da)到(dao)飽和(he)，其產生機制主要是硅材料內的硼(peng)氧(yang)(B-O)缺陷對。
2012 年(nian)，有(you)國外(wai)研(yan)究發現(xian)，PERC多(duo)晶硅太陽電池中除存(cun)在(zai)光致衰(shuai)減(jian)(LID) 之外(wai)，還存(cun)在(zai)“熱輔助(zhu)光誘導(dao)衰(shuai)減(jian)”（Light elevatedTemperature Induce Degradation，LeTID）， LeTID 現(xian)象會隨(sui)著環境溫度的(de)升高而(er)加(jia)強，與傳統LID 現(xian)象的(de)特性有(you)所不(bu)同。
2017年，國際上一(yi)些(xie)研究單(dan)位開(kai)展了(le)進一(yi)步的(de)研究，一(yi)個比較重要的(de)發現是(shi)PERC 單(dan)晶硅(gui)(gui)太陽(yang)電池同樣也存在 LeTID 現象。Q-Cell 公司在2017 年報道了(le)其 PERC 單(dan)晶硅(gui)(gui)太陽(yang)電池的(de)LeTID 結果，雖然該電池使用常規的(de) B-O 對穩定工藝可在 25 ℃時使電池的(de)衰減趨(qu)于(yu)穩定，但是(shi)在 75 ℃時其光致衰減仍會明顯增加。
LID與LeTID兩者區別：
中國可再(zai)生能源學(xue)會光伏(fu)(fu)專業委員會在《2018 年中國光伏(fu)(fu)技術發(fa)展(zhan)報告》（5）對(dui)LID和LeTID的區(qu)別進行了總(zong)結(jie)。具體如下：
LeTID功率衰減：
2019年9月，Fraunhofer 實驗室MatthiasPander團隊公開發表了(le)(le)《Prediction of potential power/field lossfrom LeTID susceptible modules》，論文(wen)對LeTID組(zu)件(jian)的功(gong)率衰減(jian)進行了(le)(le)詳細的研究，如(ru)下(xia)圖為經過690h測(ce)試后(hou)的單晶PERC組(zu)件(jian)EL照片，組(zu)件(jian)內部(bu)的電池(chi)(chi)亮度均勻性(xing)變差，部(bu)分電池(chi)(chi)已經呈現性(xing)能衰減(jian)。
在(zai)實(shi)驗室環境(jing)(jing)下，高(gao)溫(wen)(wen)(wen)度(du)和強(qiang)輻射(she)會大(da)(da)大(da)(da)加速功率衰(shuai)減，因(yin)此衰(shuai)減速度(du)與地理(li)位置密切相關(guan)。高(gao)溫(wen)(wen)(wen)通常定(ding)義在(zai)50℃以上(shang)，文中對LeTID敏感組件(jian)的(de)測試地理(li)環境(jing)(jing)分成(cheng)3等級，中性moderate (一(yi)年環境(jing)(jing)溫(wen)(wen)(wen)度(du)約(yue)1 % 的(de)時(shi)段在(zai) 50 °C以上(shang))、溫(wen)(wen)(wen)暖warm (一(yi)年環境(jing)(jing)溫(wen)(wen)(wen)度(du)約(yue)5% 的(de)時(shi)段在(zai)50 °C以上(shang))和炎熱 hot (一(yi)年環境(jing)(jing)溫(wen)(wen)(wen)度(du)約(yue)15% 的(de)時(shi)段在(zai) 50 °C以上(shang))。
結果如圖(tu)(tu)所示，在炎熱地(di)(di)帶，年發電損失(shi)約達(da)到(dao)5%，當達(da)到(dao)最大衰減(jian)以后，第(di)7年以后組件(jian)在熱輔助(zhu)的(de)(de)作用(yong)下開始功率恢復，但是恢復的(de)(de)程(cheng)度有限，需(xu)(xu)要花費的(de)(de)時(shi)間也很長，如圖(tu)(tu)則(ze)需(xu)(xu)要10年以上。在溫暖(nuan)地(di)(di)區，第(di)5年功率衰減(jian)達(da)到(dao)4%左右(you)。在中(zhong)性(xing)氣候地(di)(di)區，影(ying)響較小。
另外Friederike Kersten在論文(wen)《System performance loss due to LeTID》公開報(bao)道(dao)戶外測試結果，安裝場地位于賽普洛斯，氣候較為溫暖，使用多(duo)晶(jing)PERC電(dian)池組件(jian)，運(yun)行三年(nian)以后的最(zui)大衰減為7%左右。
由于LeTID組件容易受環境(jing)溫度(du)影響，因此(ci)對(dui)于光伏電站(zhan)建設，需要(yao)根(gen)據當(dang)地(di)的氣候環境(jing)進行選型(xing)，對(dui)于炎熱(re)地(di)區，最好(hao)使(shi)用具有(you)第三(san)方認證的抗LeTID組件。
來源:坎(kan)德拉學院
